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蔡司工業顯微鏡Cros*eam系列都將大大提升您的應用體驗。
使用Gemini電子光學系統，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息
使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質量、降低樣品損傷，同時大大加快實驗操作過程
使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時將非晶化損傷降到非常低
使用Cros*eam 340的可變氣壓功能
或使用Cros*eam 550實現更苛刻的表征，大倉室甚至為您提供更多選擇
EM樣品制備流程
按照以下步驟，高效率、高質量地完成制樣
Cros*eam 為制備超薄、高質量的TEM樣品提供了一整套解決方案，您可以高效地準備樣品，并在TEM或STEM上實現透射成像模式的分析。
1.自動定位——感興趣的區域(ROI)輕松導航
您可以不費功夫地找到感興趣的區域(ROI)
使用樣品交換室的導航相機對樣品進行定位
集成的用戶界面使得您可以輕松定位到ROI
在SEM上獲得寬視野、無畸變的圖像
2. 自動制樣——從體材料開始制備薄片樣品
您可以通過簡單的三個步驟制備樣品：ASP(自動樣品制備)
定義參數包括漂移修正，表面沉積以及粗切、精細切割
FIB鏡筒的離子光學系統保證了工作流程具有極高的通量
將參數導出為副本，進而可以重復操作實現批量制備
